我们在这，迎来送往 | CIMT 2017现场的那些精彩

四月末的北京城，有漫天柳絮，有回暖的气候。而最为重要的是第十五届中国国际机床展览会（CIMT 2017），来自展会主办方的统计显示，展会前两日，共有55,361位专业观众进馆参观。区别于以往几届，本届展会的观众更多带着具体的项目合作或设备采访清单前来，市场回暖迹象已经初显。

在全球目光的注视下，CIMT展会上的“首发”技术正不断涌现，蔡司就在展会首日揭幕了一款亚洲首发及其他的新产品，在同期举办的新品发布会上，以“创新塑造计量未来，智能软件”主题，和参会的观众进行了热烈的探讨与互动。在所展示的工业CT、三维测头、机器人+光学测头、智慧软件等产品和解决方案中，未来的质量保驾之道已经明朗化了。
 

此次亚洲首秀的全新工业CT无损测量技术METROTOM，实现了锥束X射线断层扫描与坐标测量技术出色的融合，其兼具高精度与多功能的特点，有效取代传统复杂耗时的检测方式，解决产品难以触及与隐藏部位的尺寸及形位公差测量、孔隙率分析、装配检验、模具修改、逆向工程等业界应用难题。能够无缝对接塑料工程、铝压铸、汽车、电子、精密机械及科研检测等行业需求。

同时，值得关注的是，传感器和测头正为测量带来前所未来的“高科技”体验，这在蔡司的CIMT展位上随处可见。此次展示的新型测头ZEISS DotScan 白光测头已经整合到了整个蔡司测量系统。配备DotScan 共聚焦白光测头的ZEISS ACCURA 多测头平台，也是市场上首次推出的装于万向旋转测座上的白光测头。

而新型光学传感器LineScan：可在ZEISS CONTURA RDS 机型上应用自如，能并带来更精密、更可视化的测量。采用LineScan 可以扩展ZEISS CONTURA 的功能，它具有进行快速光学测量的特点。可实现对汽车零部件、模具及产品、以及需要对接触敏感或结构精细的表面进行测量。

作为新型粗糙度传感器实现在蔡司三坐标测量机（CMM）完成按标准对粗糙度和波纹度的检测，新型ZEISS ROTOS 粗糙度传感器在质量保障检测中，执行一种新的、更加简单的工作过程。其目的是在一台测量机上进行尺寸、位置或外形检测并可以对相同的工件进行粗糙度和波纹度测量。
 

此次参展的钨灯丝扫描电镜EVO，在质量标准日益严苛的现代工业化产业中帮助客户进一步检测样品的微观形貌，它具有3nm的成像分辨率，无论是工件表面的微裂纹、断口、还是夹杂物、第二相，在EVO的观察下都清晰可辩，无可遁形。SEM在高分辨成像的同时还可以通过EDS能谱精确而高效地检测模具裂纹、第二相或杂质处的元素成分信息，从而更加深入地理解其失效过程。在蔡司，你既可以通过金相显微镜观察材料组织还可以通过电子显微镜进一步放大微观区域并作元素分析找到其失效源。光镜和电镜相结合的颗粒度分析帮助你严格把关汽车零配件、模具、精密机械以及航空零部件的质量标准、并直接锁定其失效源。

硬件技术不断发展的大前提，软件技术需要同样的阔步前行。因此，蔡司PiWeb Reporting 已然成为测量机的主流配置。它作为ZEISS 测量软件包的一部分，对测量结果进行分析和记录。

对于蔡司来说，每次展会都是与客户近距离的接触以及了解客户需求的最佳时机。为此蔡司一直在努力，让客户每次都能在我们的展位上发现不一样的蔡司。蔡司始终把“助力客户成功”作为我们的核心策略，因为客户的成功才是我们的成功。