在光学加工领域，纳米级复杂曲面的最终检测通常依赖昂贵的专用设备。为保护核心资产并提升产线整体效率，制造商亟需在中间工序进行可靠的快速检测。传统接触式测量面临多重挑战，比如为保护表面只能进行单点测量，单件耗时长达数小时且数据密度不足，在应对亚微米级面型要求时较为吃力，以及功能单一，无法对透明材质进行厚度测量。

Dotscan是蔡司生态中的一款非接触式光谱共焦传感器。它可与现有的蔡司PRISMO三坐标测量机结合，将传统的“点”测量升级为高速“面”扫描，重塑中序检测流程。